We present the terahertz (THz) scanning probe microscope which combines a THz coherent spectrometer and a scanning probe microscope. It detects forward-scattered radiation and employs harmonic signal demodulation to extract the signal of near-field contribution to scattering of THz electromagnetic waves.
Мы представляем терагерцевый сканирующий зондовый микроскоп, объединяющий ТГц когерентный спектрометр и сканирующий зондовый микроскоп. Он детектирует пряморассеянное излучение и использует демодуляцию гармонического сигнала для выделения сигнала ближнепольного вклада в рассеяние ТГц электромагнитных волн.
