Костюченко, В. Я.; Протасов, Д. Ю.
(Новосибирский государственный университет, 2011)
В работе предлагается развитый для эпитаксиальных пленок кадмий– ртуть– теллур р-типа фотоэлектромагнитный комплекс методов определения рекомбинационно-диффузионных параметров при температуре 77÷125 K. Комплекс включает в ...